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本发明涉及一种检测金属深孔微弯的探测器及其方法，该探测器包括传感器组件和连接在传感器组件输入端的光开关，以及连接在光开关输入端的环形器，所述环形器的输入端连接有宽带光源，所述环形器的另一个输出端与耦合器的输入端连接，且所述耦合器的输出端分别与光功率计和解调仪的输入端连接。本发明提出的检测方法采用F‑P干涉原理，其中光纤端面与金属深孔内壁构成F‑P腔结构，利用峰值检波的方法解调出F‑P腔长与自由谱宽之间的关系，确定了金属深孔内壁与传感探测器之间的距离，该精度可达μm量级，能够精准判断金属深孔的微弯程度及位置，具有非常理想的技术效果。