摘要:本发明涉及一种检测金属深孔微弯的探测器及其方法,该探测器包括传感器组件和连接在传感器组件输入端的光开关,以及连接在光开关输入端的环形器,所述环形器的输入端连接有宽带光源,所述环形器的另一个输出端与耦合器的输入端连接,且所述耦合器的输出端分别与光功率计和解调仪的输入端连接。本发明提出的检测方法采用F‑P干涉原理,其中光纤端面与金属深孔内壁构成F‑P腔结构,利用峰值检波的方法解调出F‑P腔长与自由谱宽之间的关系,确定了金属深孔内壁与传感探测器之间的距离,该精度可达μm量级,能够精准判断金属深孔的微弯程度及位置,具有非常理想的技术效果。 |